電子元器件做恒溫恒濕試驗的執(zhí)行標準是為了確保電子元器件在各種環(huán)境條件下能夠穩(wěn)定、可靠地工作。恒溫恒濕試驗是評估電子元器件對環(huán)境適應性的一種重要手段，其執(zhí)行標準通常包括以下幾個方面：

一、試驗條件

恒溫恒濕試驗通常在恒溫恒濕試驗箱內進行，該設備能夠提供穩(wěn)定的溫度和濕度環(huán)境。試驗條件應根據電子元器件的具體要求而定，通常包括溫度范圍、濕度范圍、試驗時間等參數。

二、試驗樣品

試驗樣品應代表實際使用的電子元器件，并應按照相關標準進行選取和制備。試驗前應對樣品進行檢查，確保其外觀、尺寸、重量等符合規(guī)定要求。

三、試驗程序

試驗程序應包括試驗前的準備、試驗過程中的操作、試驗后的數據處理等步驟。試驗過程中應嚴格控制試驗條件，確保試驗結果的準確性和可靠性。

四、試驗結果

試驗結果應包括試驗數據、試驗結論等內容。試驗數據應詳細記錄試驗過程中的溫度、濕度等參數，并進行必要的統(tǒng)計分析。試驗結論應根據試驗數據和相關標準進行評估，得出電子元器件是否滿足恒溫恒濕要求的結論。